赫爾納供應英國Jandel可調節(jié)高度自動探頭
赫爾納供應Jandel可調節(jié)高度自動探頭，德國總部直接采購，近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報價，價格優(yōu)，在中國設有8大辦事處提供相關售后服務。
公司簡介：
Jandel工程有限公司提供了可調節(jié)高度探針臺的自動Z運動(AFPP)用于進行四點探針測量。
AFPP可以用于測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。
可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩個工具之間。
Jandel可調節(jié)高度自動探頭產(chǎn)品類別：
l jandel四探針探頭
l jandel四探針
l jandel探頭
l jandel探針臺
主要型號：
設備尺寸
1.可調節(jié)高度測試臺：W×L×H（mm）320×370×8
2.AFPP主機：W×L×H（mm）64×215×67
3.可調節(jié)高度軸桿:d（mm）19；L（mm）200（可定制額高度到1000mm）
A-D型號和E-H型號
產(chǎn)品介紹：
l 可測晶片直徑：直徑d≤300mm
l 可測晶片厚度：高度h≤250mm
l 自動停機：具有接觸到樣品的傳感器（通過傳感器檢測接觸到樣品）
l 手動控制：遠程控制
l Jandel-RM300能夠提供電源和樣品接觸
優(yōu)勢特點：
系統(tǒng)配置
組成部件（產(chǎn)品配置）：
1.測試臺——1個
2. AFPP主機——1個
3.可調節(jié)高度的軸桿——1根
4.四探針探頭——1個
5.電纜線——一根
英國Jandel可調節(jié)高度自動探頭主要應用：
用于半導體行業(yè)以及大學，實驗室工作和研究應用的電阻率測量設備。
儀器儀表
模擬盒
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